測(cè)試項(xiàng)目匯總 |
1 |
X射線光電子能譜(XPS) |
42 |
凝膠色譜儀(GPS) |
2 |
X射線光電子能譜(AR-XPS) |
43 |
離子色譜儀(IC) |
3 |
X射線衍射儀(XRD) |
44 |
氣/質(zhì)聯(lián)用儀(GC/MS) |
4 |
X射線熒光光譜儀(XRID) |
45 |
液質(zhì)聯(lián)用(LC-MS) |
5 |
(TG-DTA)室溫~800℃ 室溫~1000℃ 室溫~1200℃ |
46 |
等離子體光譜儀ICP-OES |
6 |
(TG-DSC)室溫~800℃ 室溫~1000℃ 室溫~1200℃ |
47 |
ICP-OES全掃描 |
7 |
Zate電位測(cè)試 |
48 |
組織樣品ICP測(cè)全鐵含量 |
8 |
孔徑與比表面積分析 |
49 |
普通酸消解制樣費(fèi) |
9 |
X射線光電子能譜(XPS) |
50 |
HF/王水消解制樣費(fèi) |
10 |
元素分析儀(EA) |
51 |
EA測(cè)C,H,N,S,O元素 |
11 |
AFM形貌粗糙度 |
52 |
DSC/DTA-TG(5℃/min)(10℃/min) |
12 |
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(SEM) |
53 |
共聚焦拉曼光譜儀(Raman) |
13 |
SEM-EDS(點(diǎn)掃)(線掃)(面掃) |
54 |
紅外氮氧儀 |
14 |
環(huán)境掃描電鏡(ESEM) |
55 |
紅外碳硫儀 |
15 |
TEM-EDS(點(diǎn)掃)(線掃)(面掃) |
56 |
傅里葉紅外光譜儀(FTIR) |
16 |
粉末/液體 透射電鏡(TEM) |
57 |
氫譜 |
17 |
生物樣本透射電鏡(TEM) |
58 |
碳譜 |
18 |
TEM染色制樣 |
59 |
比熱(800℃以下)(1200°C以下) |
19 |
磁性粉末TEM/HRTEM |
60 |
物鏡球差透射(AC-TEM) |
20 |
聚光鏡球差透射(AC-STEM) |
61 |
智能重量分析(IGA) |
21 |
全自動(dòng)物理吸附儀(介孔BET)(微孔BET) |
62 |
蛋白質(zhì)含量檢測(cè) |
22 |
激光粒度分析 |
63 |
氨基酸含量檢測(cè) |
23 |
拉曼分析 |
64 |
電子背散射衍射(EBSD) |
24 |
鹵素水分測(cè)定儀(固含量測(cè)試分析) |
65 |
PFM壓電力顯微鏡 |
25 |
粘度分析 |
66 |
臺(tái)階儀/輪廓儀(三維輪廓) |
26 |
透光率/霧度分析 |
67 |
聚焦離子束(FIB) |
27 |
涂層附著力 |
68 |
接觸角測(cè)試(水接觸角) |
28 |
涂層方塊電阻(四探針測(cè)試) |
69 |
電子萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī) |
29 |
熱輻射率(雙波段發(fā)射率測(cè)試) |
70 |
超導(dǎo)量子干涉磁測(cè)量系統(tǒng) (SQUID) |
30 |
松裝密度 振實(shí)密度 |
71 |
高壓吸附儀 |
31 |
體積電阻率(粉體)(液體) |
72 |
靜態(tài)熱機(jī)械分析(TMA) |
32 |
液體微量水分 |
73 |
熱膨脹分析儀 |
33 |
灰分測(cè)試 |
74 |
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA) |
34 |
金屬離子含量(原子吸收光度) |
75 |
PL穩(wěn)態(tài)譜(含激發(fā)和發(fā)射) |
35 |
固體核磁共振儀(NMR) |
76 |
PL瞬態(tài)譜(熒光壽命) |
36 |
總有機(jī)炭分析儀(TOC) |
77 |
PL量子產(chǎn)率 |
37 |
總氮分析儀(TM) |
78 |
化學(xué)吸附儀(TPD-MS)(H2-TPR)(NH3-TPD) |
38 |
低分辨質(zhì)譜(MS) |
79 |
全自動(dòng)壓汞儀(MIP) |
39 |
高分辨質(zhì)譜(HRMS) |
80 |
振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)---慢掃(VSM) 快掃(VSM) |
40 |
氣相色譜(GC) |
81 |
橢偏儀 |
41 |
液相色譜(LC) |
82 |
高級(jí)旋轉(zhuǎn)流變儀(常溫流變)(高溫流變) |